產品介紹：
GD90 Trace 具有成熟的光學平臺和先進穩(wěn)定的電子控制系統。 基于高性能MSI AutoConcept的離子光學系統，實現高穩(wěn)定性、超低檢測限，使GD90 Trace性能優(yōu)于其他同類儀器。
| 離子源系統
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探測系統
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電子系統
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磁鐵控制器模塊 |
| 優(yōu)勢： 更少的接線 更簡易的故障診斷 更容易更換 | 更現代化的DACs和ADCs 增加穩(wěn)定性 更低的能耗 更多的靈活性 系統可在線更新 |
GD90 Trace 主要特點
1. 易于清洗的高純鉭放電池及離子源結構
2. 有效的低溫制冷，將氣體背景降至最低
3. 同時配備了針狀和塊狀樣品池
4. 對輕/重元素無質量偏差
5. 使用180Ta 和 181Ta來快速檢查電子倍增器和法拉第杯，確保響應的一致性
6. 在需要更換其他惰性氣體情況（例如氪），低氣體流速更節(jié)省成本
7. 可分析不同形態(tài)的合金、高純樣品（導體和非導體）
8. 低濺射速率—常規(guī)分析條件下濺射速率從100nm/min（非導體）到150nm/min（導體）；需要更低條件時可讓濺射速率再降低至少5倍。
9. RSFs和檢測限來源于已發(fā)表和易溯源的方法
10. 前端裝置可根據用戶需要專門定制手套箱用于核材料的應用
規(guī)格參數：
GD90 Trace 作為高分辨雙聚焦輝光放電質譜儀，可在單次掃描實現從主量元素（wt%）到超痕量元素（ppb 到亞 ppb）的全元素分析。GD90 Trace 的離子源和分析器由全不銹鋼構成。
分辨率 | 連續(xù)可調 |
背景噪聲 | ＜0.5cps |
分析器真空 | <2x10-7 mbar |
基體電流 | >5 x10-10 amps（Cu 樣品，在分辨率 > 4000 時的總Cu 信號） >1.5 x1 0-11amps (使用RF源，SiO2玻璃樣品） |
信號強度穩(wěn)定性 | <3% RSD (Cu 樣品，分辨率>4000，10 分鐘內重復 5 次測量) <5% RSD (Cu 樣品，分辨率>4000，30 分鐘內重復 15 次測量) |
譜峰穩(wěn)定性 | <30ppm (Cu 樣品，分辨率>4000， 對 63Cu 進行30分鐘測量） |
質量穩(wěn)定性 | <100ppm (12C 到 181Ta) |
離子計數效率 | ＞70%（相對于法拉第杯） |
豐度靈敏度 | <200ppb（Cu 樣品，分辨率>4000, 62Cu 相對 63Cu） |
內部重復性 | 主量成份< 3%RSD 次量成份< 5%RSD 痕量成份<10%RSD |
外部重復性 | 主量成份< 5% RSD 次量成份< 10%RSD 痕量成份<20%RSD |
公司介紹：
英國質譜儀器有限公司（MSI）是一家專業(yè)性很強的公司，專門從事高性能磁性行業(yè)雙聚焦質譜儀的設計，旨在滿足有機和無機分析市場的需求。 它繼承了Kratos Analytical的技術，該技術是1957年引入商業(yè)質譜儀的先驅。從那時起，對高精度，高分辨率儀器的需求呈指數增長。 在MSI，我們通過投資于新的開發(fā)和應用，正在將這項技術提升到新的水平方面取得了巨大的進步。
GD90 Trace 作為高分辨雙聚焦輝光放電質譜儀，可在單次掃描實現從主量元素（wt%）到超痕量元素（ppb 到亞 ppb）的全元素分析。GD90 Trace 的離子源和分析器由全不銹鋼構成。
分辨率 | 連續(xù)可調 |
背景噪聲 | ＜0.5cps |
分析器真空 | <2x10-7 mbar |
基體電流 | >5 x10-10 amps（Cu 樣品，在分辨率 > 4000 時的總Cu 信號） >1.5 x1 0-11amps (使用RF源，SiO2玻璃樣品） |
信號強度穩(wěn)定性 | <3% RSD (Cu 樣品，分辨率>4000，10 分鐘內重復 5 次測量) <5% RSD (Cu 樣品，分辨率>4000，30 分鐘內重復 15 次測量) |
譜峰穩(wěn)定性 | <30ppm (Cu 樣品，分辨率>4000， 對 63Cu 進行30分鐘測量） |
質量穩(wěn)定性 | <100ppm (12C 到 181Ta) |
離子計數效率 | ＞70%（相對于法拉第杯） |
豐度靈敏度 | <200ppb（Cu 樣品，分辨率>4000, 62Cu 相對 63Cu） |
內部重復性 | 主量成份< 3%RSD 次量成份< 5%RSD 痕量成份<10%RSD |
外部重復性 | 主量成份< 5% RSD 次量成份< 10%RSD 痕量成份<20%RSD |