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行業(yè)資訊

  • 靈活的光子計數(shù)、像素化X射線直接探測器—MiniPIX TPX Flex

    點擊藍字關(guān)注我們MiniPIX TPX FlexMiniPIX TPX Flex是一款由北京眾星聯(lián)恒科技有限公司和捷克Advacam公司聯(lián)合推出的掌上型光子計數(shù)、像素化、X射線直接探測器，內(nèi)含由歐洲核子研究組織（CERN）研發(fā)的Timepix讀出芯片（256 x 256 ，像素大小55μm x 55 μm）和500μm硅傳感器及相應讀出電路。它可以用于探測X射線、質(zhì)子、電子的數(shù)量、到達時間和能量。

    2025-05-13 unistar

  • 眾星聯(lián)恒-前沿視界 - EUV&X射線行業(yè)洞察

    點擊藍字 關(guān)注我們ENTERPRISE世界或許會分化，但科學的光永不熄滅盡管全球科技格局面臨諸多不確定性，未來的世界也許是割裂的，但是尖端技術(shù)的火種始終在文明長河中始終會奔涌不息。極紫外（EUV）與X射線技術(shù)作為突破物理極限的關(guān)鍵領域，正在推動基礎科學、半導體、精密檢測等行業(yè)的深刻變革。作為深耕極紫外（EUV）及X射線核心部件領域的技術(shù)服務商和解決方案的探索者，眾星聯(lián)恒始終以"技術(shù)瞭望者"的視角，

    2025-05-13 unistar

  • hiXAS助力復旦大學趙東元院士團隊發(fā)表新Angew/從ex-situ到in-situ研究——推動實驗室XAS表征上升新臺階

    點擊藍字，關(guān)注我們X射線吸收光譜（XAS）技術(shù)及儀器的發(fā)展材料原子選擇性地吸收特定能量的X射線，引起原子芯能級軌道電子的躍遷，通過探測X射線被材料吸收前后的強度變化，可以獲得材料原子的X射線吸收光譜。X射線吸收近邊結(jié)構(gòu)（XANES）的特征吸收能量和強度與原子的軌道電子結(jié)構(gòu)密切相關(guān)，遵從朗伯-比爾定律，可用于定量分析材料原子的價態(tài)、軌道電子自旋態(tài)等；而擴展X射線吸收精細結(jié)構(gòu)（EXAFS）直接反映了吸

    2025-06-11 unistar

  • 一款清潔的小型化實驗室桌面軟X射線光源—ProLINE

    光學技術(shù)是人類從微觀尺度認識物質(zhì)基本結(jié)構(gòu)和演化規(guī)律的觀測之“眼”，也是實現(xiàn)微納結(jié)構(gòu)精密加工的制造之“手”。作為光學的重要組成部分，極紫外（EUV）和軟X射線（SXR）光學在眾多應用領域均表現(xiàn)出了獨特的優(yōu)勢。如下圖1，在EUV和SXR光譜區(qū)域分布著大量元素的原子共振能級，利用EUV或SXR光激發(fā)原子內(nèi)殼層的軌道電子，可以實現(xiàn)元素價態(tài)和軌道電子結(jié)構(gòu)的探測[1]。EUV和SXR光波長短，光子能量高，在納

    2025-02-18 unistar

  • Channel Cut 晶體單色器：開啟 X 射線高分辨之窗

    01BACKGROUND高分辨X射線衍射分析的方法背景粉末晶體和不完美晶體通常包含許多晶格缺陷，例如位錯，它們的三維周期性往往是無序的。鑲嵌晶體模型將這種無序性描述為大量微小區(qū)域的集合，這些區(qū)域在周期性上沒有無序，但在取向上有輕微差異。在鑲嵌晶體中，X射線可以相互干涉的區(qū)域很小，入射的X射線束在大多數(shù)情況下可能只在晶體中散射一次。衍射的運動學理論適用于這些情況，涉及許多無機和有機晶體，甚至非晶材料

    2025-04-08 unistar

  • 王戈教授被任命為《IEEE醫(yī)學成像學報》主編

    點擊藍字，關(guān)注我們2025年1月10日，倫斯勒理工學院（RPI）Clark-Crossan講座教授及生物醫(yī)學成像中心主任王戈教授 被正式任命為 《IEEE醫(yī)學成像學報》（IEEE Transactions on Medical Imaging）的主編。該期刊是醫(yī)學成像領域的旗艦期刊，每年收到近3,000篇投稿，并且在所有生物醫(yī)學工程期刊中被引用次數(shù)最多之一。王教授的任期為三年，并有可能續(xù)任第二個任

    2025-01-20 unistar

  • 文獻速遞：邊緣照明X射線相襯微米CT中體各向異性的自監(jiān)督分辨率增強

    2025新年伊始，來自荷蘭萊頓大學高等計算機科學研究所的Jiayang Shi以第一作者的身份在“ Tomography of Materials and Structures” 發(fā)表了一篇名為：“ Self-supervised resolution enhancement for anisotropic volumes in edge illumination X-ray phase cont

    2025-01-14 unistar

  • EUV多層膜元件的反射率表征：從微觀到宏觀的極致優(yōu)化

    點擊藍字 關(guān)注我們WINTER多層膜反射率表征背景介紹EUV多層膜元件是EUV光學系統(tǒng)的核心光學元件，通過周期性膜層結(jié)構(gòu)設計可以在特定波長和入射角度條件下獲得盡可能高的反射率。如圖1是一片由德國optiX fab.制造的周期性Mo/Si多層膜反射鏡在5°入射角條件下的反射率測試結(jié)果，對中心13.5nm波長的實測反射率可以達到65%以上，非常接近于理論光學極限。圖1. Mo/Si多層膜反射鏡在PTB

    2025-04-07 unistar

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